Термин
|
Буквенное обозначение
|
Определение
|
1. Электронный
микроскоп
D. Elektronenmikroskop
E. Electron Microscope
F. Microscope électronique
|
-
|
Микроскоп,
формирующий изображение объекта электронными пучками средствами электронной
оптики
|
|
2.
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)
Ндп. Трансмиссионный электронный микроскоп
D. Durchstrahlungs-Elektronenmicroskop
E. Transmission electron microscope
|
-
|
Электронный
микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, проходящими
сквозь этот объект
|
3. Растровый
электронный микроскоп (РЭМ)
Ндп. Сканирующий электронный микроскоп
D. Rasterelelektronenmikroskop
E. Scanning electron microscope
|
-
|
Электронный
микроскоп, формирующий изображение объекта при сканировании его поверхности
электронным зондом
|
4.
Отражательный электронный микроскоп
D. Reflexions-Eletronenmikroskop
E. Reflection electron microscope
|
-
|
Электронный
микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками, отраженными
этим объектом
|
5. Эмиссионный
электронный микроскоп
D. Emissions-Elektronenmikroskop
E. Emission electron microscope
|
-
|
Электронный
микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками,
эмиттируемыми этим объектом
|
6. Зеркальный
электронный микроскоп
D. Spiegelelektronenmikroskop
E. Mirror electron microscope
|
-
|
Электронный
микроскоп, формирующий изображение объекта, являющегося катодом электронного
зеркала
|
7. Автоэлектронный
проектор
Ндп. Микропроектор
Микроскоп-проектор
|
-
|
Электронный
микроскоп, формирующий изображение объекта электронными пучками,
эмиттируемыми этим объектом под воздействием электрического поля
|
|
8.
Электронная пушка электронного микроскопа
Электронная пушка
D. Elektronenstranhler
E. Electron gun
|
-
|
Эмиссионная
система, предназначенная для ускорения электронов в электронном микроскопе
|
9. Электронное
зеркало
D. Elektronenspiegel
E. Electron mirror
|
-
|
Электронно-оптический
элемент электронного микроскопа, предназначенный для изменения направления
осевых составляющих скоростей электронов электронного пучка на обратное
|
10.
Видеоконтрольное устройство растрового электронного микроскопа (ВКУ)
|
-
|
Система
визуального наблюдения процессов, протекающих в растровом электронном
микроскопе при взаимодействии электронного зонда с объектом
|
11.
Электронная линза электронного микроскопа
Линза
D. Elektronenlinse
E. Electron lens
|
-
|
Электронно-оптический
элемент, предназначенный для фокусировки электронных пучков в электронном
микроскопе
|
12. Магнитная
линза электронного микроскопа
Магнитная линза
D. Magnetische Linse
E. Magnetic lens
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных
пучков магнитным полем
|
13. Электростатическая
линза электронного микроскопа
Электростатическая линза
D. Elecktrische Linse
E. Electric lens
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных
пучков электрическим полем
|
14.
Формирующая линза
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, формирующая электронный зонд в плоскости
объекта
|
15.
Конденсаторная линза электронного микроскопа
Конденсор
D. Kondensorlinse
E. Condenser lens
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных
пучков, освещающих объект
|
16. Двойной
конденсатор электронного микроскопа
Двойной конденсор
D. Doppelkondensor
E. Double condenser
|
-
|
Часть
электронно-оптической системы, состоящая из двух конденсаторных линз,
предназначенная для фокусировки электронных пучков, освещающих объект
|
17. Объективная
линза электронного микроскопа
Объектив
D. Objektivlinse
E. Objective lens
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, формирующая первое увеличенное изображение
объекта
|
18.
Дифракционная линза
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, формирующая промежуточное изображение объекта
или его дифракционной картины в предметной плоскости промежуточной линзы
|
19.
Промежуточная линза электронного микроскопа
Промежуточная линза
D. Zwischenlinse
E. Intermediate lens
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, формирующая промежуточное изображение объекта
или его дифракционной картины в предметной плоскости проекционной линзы
|
20. Проекционная
линза электронного микроскопа
Проекционная линза
Ндп. Проектив
D. Projektiv
E. Projector
|
-
|
Электронная
линза электронного микроскопа, формирующая увеличенное конечное изображение
объекта или его дифракционной картины
|
21. Регистрирующая
система электронного микроскопа
Регистрирующая система
|
-
|
Устройство,
предназначенное для регистрации электронов и вторичных излучений в
электронном микроскопе
|
22. Фотокамера
электронного микроскопа
Фотокамера
D. Aufnahmekammer
E. Photographic chamber
|
-
|
Часть
регистрирующей системы электронного микроскопа, предназначенная для
фотографирования изображения в электронных пучках
|
23. Вакуумная
система электронного микроскопа
Вакуумная система
D. Vakuumanlage
E. Vacuum system
|
-
|
Система,
предназначенная для создания вакуума в электронном микроскопе
|
24. Юстировочная
система электронного микроскопа
Юстировочная система
|
-
|
Устройство,
предназначенное для совмещения электронного пучка с оптической осью
электронно-оптической системы электронного микроскопа
|
25. Отклоняющая
система электронного микроскопа
Отклоняющая система
D. Ablenksystem
E. Deflection system
|
-
|
Электронно-оптический
элемент электронного микроскопа, предназначенный для отклонения электронного
пучка электрическими или магнитными полями
|
26. Стигматор
D. Stigmator
E. Stigmator
|
-
|
Электронно-оптический
элемент электронного микроскопа, предназначенный для исправления приосевого
астигматизма
|
27. Полюсный
наконечник электронного микроскопа
Полюсный наконечник
D. Polschuh
E. Pole piese
|
-
|
Часть
магнитопровода электронного микроскопа, концентрирующая поле магнитной линзы
в приосевой области
|
28. Колонна
электронного микроскопа
Колонна
D. Mikroskoprohr
E. Microscope column
|
-
|
Совокупность
конструктивно объединенных электронно-оптических и механических элементов
электронного микроскопа
|
29. Шлюзовое
устройство электронного микроскопа
Шлюз
D. Schleuse
E. Airlock
|
-
|
Устройство,
предназначенное для ввода и вывода из колонны электронного микроскопа сменных
элементов без существенного нарушения в ней рабочего вакуума
|
|
30. Светлопольное
изображение
D. Hellfeldabbildung
E. Bright-field image
|
-
|
Изображение,
сформированное в просвечивающем электронном микроскопе электронными пучками,
содержащими нерассеянные в объекте электроны, а также рассеянные в пределах
апертурного угла объективной линзы
|
31. Темнопольное
изображение
D. Dunkelfeldabbildung
E. Dark-field image
|
-
|
Изображение,
сформированное в просвечивающем электронном микроскопе только рассеянными в
объекте электронными пучками
|
32. Микродифракция
D. Feinbereichsbeugung
E. Selected ared diffraction
|
-
|
Дифракционное
изображение малого участка объекта, сформированное в задней фокальной
плоскости объективной линзы и увеличенное электронными линзами
просвечивающего электронного микроскопа
|
|
33. Изображение во вторичных электронах
D. Abbildung mit sekundärelelektronen
E. Secondary-Emission mobe
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием вторичных
электронов от объекта
|
34. Изображение
в отраженных электронах
D. Abbildung mit Rückstreuelektronen
E. Backscackscattered Electron mode
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием отраженных
от объекта электронов
|
35. Изображение
в поглощенных электронах
D. Abbildung mit Probenstömen
E. Absorbed specimen current mode
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием
электронов, поглощенных объектом
|
36. Катодолюминесцентное
изображение
D. Abbildung mit Kathodolumineszenz
E. Cathodoluminescence mode
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием
оптического излучения, возбуждаемого в объекте электронным зондом
|
37. Изображение
в наведенном электронным зондом токе
D. Abbildung mit induzierten Probenströmen
E. Induced current mode
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием тока,
возникающего в цепи с полупроводниковым объектом при воздействии на него
электронного зонда
|
38.
Изображение в рентгеновском характеристическом излучении
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием
характеристического рентгеновского излучения, возбуждаемого в объекте
электронным зондом
|
39. Изображение в Оже-электронах
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием
Оже-электронов
|
40. Изображение в прошедших электронах
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе электронами, прошедшими
сквозь объект
|
41.
Изображение картин каналирования электронов
D. Abbildung mit Channelling Diagrammen
E. Electron Channeling Pattern mode
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием эффекта
каналирования электронных пучков в объекте
|
42.
Изображение при Y-модуляции
|
-
|
Изображение,
сформированное в растровом электронном микроскопе сложением видеосигнала с
током (напряжением) кадровой развертки
|
|
43. Изображение во вторичных электронах при ионной бомбардировке
|
-
|
Изображение,
сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием
вторичных электронов, возникающих при бомбардировке объекта ионами
|
44. Изображение во вторичных электронах при электронной бомбардировке
|
-
|
Изображение,
сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием
вторичных электронов, возникающих при бомбардировке объекта электронами
|
45. Изображение в термоэлектронах
|
-
|
Изображение,
сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием
термоэлектронов, испускаемых объектом при нагревании
|
46. Изображение в фотоэлектронах
|
-
|
Изображение,
сформированное в эмиссионном электронном микроскопе с использованием
фотоэлектронов, испускаемых объектом под действием оптического излучения
|
|
47.
Ускоряющее напряжение электронного микроскопа
Ускоряющее напряжение
D. Beschleunigungsspannung
E. Accelerating voltage
|
U
|
Разность
потенциалов, определяющая энергию электронов в осветительной системе
электронного микроскопа
|
48. Нестабильность
напряжения электронного микроскопа
Нестабильность напряжения
|
DU
|
Самопроизвольное
изменение значения ускоряющего напряжения электронного микроскопа во времени
|
49.
Нестабильность тока электронного микроскопа
Нестабильность тока
|
Dl
|
Самопроизвольное
изменение значения тока электронного микроскопа во времени
|
50. Электронно-оптическое
увеличение электронного микроскопа
D. Elektronenoptische Vergröberung
E. Electron optical magnification
|
мэ
|
Отношение
линейного размера изображения, полученного непосредственно в электронном
микроскопе, к линейному размеру соответствующего элемента объекта
|
51. Общее увеличение
D. Gesamtvergröberung
E. Total magnification
|
мo
|
Увеличение
изображения объекта, равное произведению электронно-оптического увеличения и
дополнительного увеличения, полученного вне электронного микроскопа
|
52. Разрешающая
способность электронного микроскопа
D. Auflösungsvermögen
E. Resolving power
|
δ
|
Наименьшее
расстояние между двумя деталями объекта, раздельно изображаемыми в
электронном микроскопе
|
53.
Разрешающая способность электронного микроскопа по кристаллической решетке
D. Netzebenenabbildung
E. Lattice plane resolution
|
δр
|
Наименьшее
межплоскостное расстояние кристаллической решетки, плоскости которой
изображаются раздельно в электронном микроскопе
|
54. Разрешающая
способность электронного микроскопа по точкам
D. Punktauflösung
E. Point resolution
|
δт
|
Наименьшее
расстояние между двумя микрочастицами объекта, раздельно изображаемыми в
электронном микроскопе
|
55.
Электронная яркость
D. Richtsrtahlwert
E. Brightnes
|
В
|
Ток
электронного пучка в пределах единичного телесного угла, приходящийся на
единицу площади облучаемой поверхности
|
56. Апертурный угол формирующей линзы
|
aФ
|
Половина
угла расхождения траекторий электронов в электронном зонде
|
57.
Апертурный угол объективной линзы электронного микроскопа
Апертурный угол объективной линзы
|
aоб
|
Половина
угла расхождения траекторий электронов, покидающих объект и формирующих
изображение
|
58. Апертурный
угол осветительной системы электронного микроскопа
Апертурный угол осветительной системы
|
aос
|
Половина
угла расхождения траекторий электронов, падающих на объект
|