Номер | Название |
Дата введения | Статус |
ГОСТ 24459-80 |
Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры | 01.01.1982 | действующий |
Название (англ.): Intergated microcircuits for storages and its elements. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств: оперативные запоминающие устройства; ассоциативные запоминающие устройства; запоминающие устройства на приборах с зарядной связью и цилиндрических магнитных доменах; постоянные запоминающие устройства с многократным электрическим программированием; усилители воспроизведения; формирователи разрядного и адресного токов Нормативные ссылки: ГОСТ 19420-74 в части запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств |
ГОСТ 24460-80 |
Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры | 01.01.1982 | действующий |
Название (англ.): Intergated microcircuits for digital devices. Basic parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы цифровых устройств: регистры, счетчики (делители частоты), дешифраторы, шифраторы, сумматоры, полусумматоры, арифметическо-логические устройства, а также усилители индикации и схемы сопряжения с магистралью и устанавливает ряды и допускаемые сочетания значений основных электрических параметров для различных схемно-технологических вариантов изготовления при нормальных климатических условиях Нормативные ссылки: ГОСТ 17447-72 в части пп. 5 и 6 |
ГОСТ 24612-81 |
Машины листогибочные с поворотной гибочной балкой с программным управлением. Основные параметры и размеры | | срок действия истёк |
Название (англ.): Swing beam sheet bending numerically controlled machines. Parametrs and dimensions |
ГОСТ 24613.0-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров | 01.01.1982 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. General requirements at measuring of electrical parameters Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары.
Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения электрических параметров оптоэлектронных интегральных микросхем и оптопар и устанавливает общие положения для стандартов этого комплекса |
ГОСТ 24613.1-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости | 30.06.1982 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of input-to-output capacitance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения проходной емкости |
ГОСТ 24613.2-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки | 30.06.1982 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Method for measuring leatage current Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы оптопары и устанавливает метод измерения тока утечки |
ГОСТ 24613.3-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения | 30.06.1982 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and opto-couples. Method for measuring input voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения выходного напряжения |
ГОСТ 24613.4-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 30.06.1982 | действующий |
Название (англ.): Electronic integrated microcircuits. Method of switsching on and switching off time measurement of commutators of analog signals and load Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения времени включения и выключения |
ГОСТ 24613.5-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки | 30.06.1982 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits. Method of zero remapend voltage measurement of commutators of analog signals and load Область применения: Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения |
ГОСТ 24613.6-81 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции | 30.06.1982 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring of isolation voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения напряжения изоляции (постоянного или импульсного) |
ГОСТ 24613.7-83 |
Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления | 30.06.1984 | действующий |
Название (англ.): Resistor opto-couples. Method for measuring light and dark output resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на резисторные оптопары и устанавливает метод измерения светового и темнового выходного сопротивления |
ГОСТ 24613.8-83 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции | 30.06.1984 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора Нормативные ссылки: ГОСТ 22440.4-77 |
ГОСТ 24613.9-83 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров | 30.06.1984 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары Нормативные ссылки: ГОСТ 22440.8-77 |
ГОСТ 24613.18-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции | 01.01.1979 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Methods for measuring isolation resistance Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции |
ГОСТ 24613.19-77 |
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току | 30.06.1978 | действующий |
Название (англ.): Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring current transfer ratio Область применения: Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока |
ГОСТ 26949-86 |
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения | 01.01.1988 | действующий |
Название (англ.): Integrated microcircuits. Methods for measuring of electrical parameters of continuous voltage regulators Область применения: Настоящий стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров:
нестабильности по напряжению;
нестабильности по току;
коэффициента сглаживания пульсаций;
температурного коэффициента напряжения;
дрейфа выходного напряжения |
ГОСТ 28814-90 |
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения | 30.06.1992 | действующий |
Название (англ.): Integrated circuits. Methods of measuring electrical parameters of puls voltage regulators operation circuits Область применения: Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока Нормативные ссылки: ОСТ 11 073.945.0-84 ОСТ 11 073.945.1-84 |
ГОСТ 29106-91 |
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения | 30.06.1992 | действующий |
Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют |
ГОСТ 29107-91 |
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы | 30.06.1992 | действующий |
Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2. Digital integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт устанавливает требования для следующих классов и подклассов приборов: комбинаторные и последовательностные цифровые схемы; интегральные схемы запоминающих устройств; интегральные схемы микропроцессоров; приборы с переносом заряда.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-2-85 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы“и полностью ему соответствует |
ГОСТ 29108-91 |
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы | 30.06.1992 | действующий |
Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3. Analog integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт устанавливает требования для следующих подклассов аналоговых интегральных схем:
операционных усилителей (с двумя входами и одним выходом);
усилителей низкой частоты, видеоусилителей и многоканальных усилителей для дальней связи;
усилителей высокой частоты и усилителей промежуточной частоты;
стабилизаторов напряжения и тока;
схем переключения аналоговых сигналов.
Данный стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации |
ГОСТ 29109-91 |
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы | 30.06.1992 | действующий |
Название (англ.): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 4. Interface integrated circuits Область применения: Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. В стандарте приведены требования для следующих классов и подклассов интерфейсных интегральных схем. Класс I: подкласс А - линейные схемы (передатчики и приемники); подкласс В - усилители считывания; подкласс С - периферийные формирователи (включая формирователи ЗУ) и схемы сдвига уровня; подкласс D - компараторы напряжения. Класс II линейные и нелинейные аналого-цифровые и цифроаналоговые преобразователи.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-4-87 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы“и полностью ему соответствует |