|
| Обозначение: | ГОСТ 4.64-80 |
|
| Статус: | действующий |
|
| Название рус.: | Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
|
| Название англ.: | Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
|
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
|
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
|
| Дата издания: | 01.02.1985 |
|
| Дата введения в действие: | 30.06.1981 |
|
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
|
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
|
| Список изменений: | №1 от 01.07.1985 (рег. 13.03.1985) «Срок действия продлен»
|
|
| Расположен в: |
|
|
