Поиск по каталогу |
Версия для печати |
Обозначение: | ГОСТ 17772-88 |
Статус: | действующий |
Название рус.: | Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик |
Название англ.: | Semiconducting photoelectric detectors and receiving photoelectric devices. Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 30.09.1988 |
Дата введения в действие: | 30.06.1989 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприемные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм.
Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие аттестации в качестве средств измерений. Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик |
Взамен: | ГОСТ 17772-79 |
Расположен в: | |