|
| Обозначение: | ГОСТ 18986.20-77 |
|
| Статус: | действующий |
|
| Название рус.: | Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим |
|
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Reference zener diodes. Method for measuring warm up time |
|
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
|
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
|
| Дата издания: | 01.08.2002 |
|
| Дата введения в действие: | 01.01.1979 |
|
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
|
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения времени выхода стабилитронов на режим tвых. и требования безопасности |
|
| Список изменений: | №0 от 01.10.2005 (рег. 01.10.2005) «Дата введения перенесена»
№1 от 01.03.1987 (рег. 04.11.1986) «Срок действия продлен»
|
|
| Приложение №1: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
|
| Расположен в: |
|
|
|
| Обозначение: | Поправка к ГОСТ 18986.20-77 |
|
| Дата введения в действие: | 01.10.2005 |
|
