| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
ГОСТ 18986.7-73
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
| Обозначение: | ГОСТ 18986.7-73 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring life time |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Дата издания: | 01.05.2004 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1975 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ |
| Список изменений: | №0 от 24.06.1987 (рег. 24.06.1987) «Срок действия продлен» №1 от 01.02.1983 (рег. 27.08.1982) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |
*********