|
| Обозначение: | ГОСТ 26239.1-84 |
|
| Статус: | действующий |
|
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей |
|
| Название англ.: | Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. Method of impurities determination |
|
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
|
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
|
| Дата издания: | 21.01.1985 |
|
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 |
|
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
|
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения примесей в интервалах значений массовых долей в полупроводниковом кремнии, двуокиси кремния, кварце, четуреххлористом кремнии и трихлорсилане |
|
| Список изменений: | №1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен»
|
|
| Расположен в: |
|
|
