| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
ГОСТ 18986.11-84
Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
| Обозначение: | ГОСТ 18986.11-84 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Дата издания: | 01.08.2002 |
| Дата введения в действие: | 30.06.1985 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Переиздание: | переиздание |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов |
| Взамен: | ГОСТ 18986.11-74 |
| Расположен в: | |
*********