Поиск по каталогу |
Версия для печати |
Обозначение: | ГОСТ 18986.10-74 |
Статус: | действующий |
Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности |
Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 01.05.2004 |
Дата введения в действие: | 30.06.1976 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн |
Список изменений: | №1 от 01.04.1979 (рег. 16.02.1979) «Срок действия продлен» №2 от 01.02.1983 (рег. 27.08.1982) «Срок действия продлен» |
Расположен в: | |