Поиск по каталогу |
Версия для печати |
Обозначение: | ГОСТ 19834.2-74 |
Статус: | действующий |
Название рус.: | Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости |
Название англ.: | Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance |
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
Дата издания: | 01.02.1984 |
Дата введения в действие: | 01.01.1976 |
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;
метод замещения; методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный |
Список изменений: | №1 от 01.07.1984 (рег. 06.12.1983) «Срок действия продлен» №2 от 01.10.1987 (рег. 01.06.1987) «Срок действия продлен» |
Расположен в: | |