| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
ГОСТ 18986.8-73
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
| Обозначение: | ГОСТ 18986.8-73 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Дата издания: | 01.05.2004 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1975 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления |
| Список изменений: | №0 от 24.06.1987 (рег. 24.06.1987) «Срок действия продлен» №1 от 01.10.1982 (рег. 03.06.1982) «Срок действия продлен» №2 от 01.01.1996 (рег. 13.07.1995) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |
*********