| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
ГОСТ 18986.4-73
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
| Обозначение: | ГОСТ 18986.4-73 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости |
| Название англ.: | Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Дата издания: | 01.07.2000 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1975 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод |
| Взамен: | ГОСТ 10964-64 |
| Список изменений: | №1 от 01.02.1982 (рег. 26.01.1982) «Срок действия продлен» №2 от 01.03.1987 (рег. 03.10.1986) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |
*********