|
Обозначение: | ГОСТ 19834.4-79 |
|
Статус: | действующий |
|
Название рус.: | Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения |
|
Название англ.: | Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power |
|
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
|
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
|
Дата издания: | 01.04.2000 |
|
Дата введения в действие: | 30.06.1981 |
|
Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
|
Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
|
Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения |
|
Список изменений: | №1 от 01.07.1984 (рег. 06.12.1983) «Срок действия продлен» №2 от 01.01.1987 (рег. 27.06.1986) «Поправка»
|
|
Расположен в: |
|
|