|
Обозначение: | ГОСТ Р 8.697-2010 |
|
Статус: | действующий |
|
Название рус.: | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
|
Название англ.: | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
|
Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
|
Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
|
Дата издания: | 19.04.2010 |
|
Дата введения в действие: | 31.08.2010 |
|
Дата последнего изменения: | 23.05.2013 |
|
Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения |
|
Расположен в: |
|
|