| Поиск по каталогу |
| Версия для печати |
ГОСТ 18986.23-80
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
| Обозначение: | ГОСТ 18986.23-80 |
| Статус: | действующий |
| Название рус.: | Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума |
| Название англ.: | Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density |
| Дата актуализации текста: | 01.08.2013 |
| Дата актуализации описания: | 01.08.2013 |
| Дата издания: | 01.08.2002 |
| Дата введения в действие: | 01.01.1982 |
| Дата последнего изменения: | 22.05.2013 |
| Переиздание: | переиздание с изм. 1 |
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц |
| Список изменений: | №1 от 01.03.1987 (рег. 26.09.1986) «Срок действия продлен» |
| Расположен в: | |
*********