Скачать ГОСТ Р 8.696-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Дата актуализации: 10.08.2017

ГОСТ Р 8.696-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра

Обозначение:	ГОСТ Р 8.696-2010
Обозначение англ:	GOST R 8.696-2010
Статус:	действует
Название рус.:	Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Название англ.:	State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer
Дата добавления в базу:	01.09.2013
Дата актуализации:	05.05.2017
Дата введения:	01.09.2010
Область применения:	Стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус 14 до 10 в ст. минус 6 А. Стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния.
Оглавление:	1 Область применения 2 Нормативные ссылки 3 Термины и определения 4 Требования к погрешности измерений 5 Средства измерений и вспомогательные устройства 6 Метод измерений 7 Требования безопасности 8 Требования к квалификации операторов 9 Условия измерений 10 Подготовка и проведение измерений 11 Обработка результатов измерений 12 Контроль погрешности результатов измерений 13 Оформление результатов измерений Приложение А (справочное) Результаты измерений межплоскостных расстояний в кристалле и интенсивности рефлексов в дифракционной картине Библиография
Разработан:	ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума ФГУП Российский научный центр Курчатовский институт ГУ РАН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
Утверждён:	10.02.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (10-ст)
Издан:	Стандартинформ (2010 г. )
Расположен в:	Техническая документация Электроэнергия МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Экология МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом
Нормативные ссылки:	ГОСТ 12.1.005-88 «Система стандартов безопасности труда. Общие санитарно-гигиенические требования к воздуху рабочей зоны» ГОСТ 12.1.045-84 «Система стандартов безопасности труда. Электростатические поля. Допустимые уровни на рабочих местах и требования к проведению контроля»