Информационная система
«Ёшкин Кот»

Скачать базу одним архивом
Скачать обновления
История создания базы
Карта сайта

Скачать ГОСТ Р 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

Дата актуализации: 10.08.2017

ГОСТ Р 8.700-2010

Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа

Обозначение: ГОСТ Р 8.700-2010
Обозначение англ: GOST R 8.700-2010
Статус:действует
Название рус.:Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Название англ.:State system for ensuring the uniformity of measurements. Method of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope
Дата добавления в базу:01.09.2013
Дата актуализации:05.05.2017
Дата введения:01.11.2010
Область применения:Стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м.
Оглавление:1 Область применения
2 Нормативные ссылки
3 Термины и определения
4 Требования к погрешности измерений
5 Средства измерений и вспомогательные устройства
6 Метод измерений
7 Требования безопасности
8 Требования к квалификации операторов
9 Условия измерений
10 Подготовка и проведение измерений
11 Обработка результатов измерений
12 Контроль погрешности результатов измерений
13 Оформление результатов измерений
Библиография
Разработан: ОАО Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
ФГУ Российский научный центр Курчатовский институт
ГОУВПО Московский физико-технический институт (государственный университет)
ГУ Российской академии наук Институт кристаллографии имени А.В. Шубникова
Утверждён:05.04.2010 Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (54-ст)
Издан: Стандартинформ (2010 г. )
Расположен в:Техническая документация Электроэнергия МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом Экология МЕТРОЛОГИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ. ФИЗИЧЕСКИЕ ЯВЛЕНИЯ Линейные и угловые измерения Линейные и угловые измерения в целом
Нормативные ссылки:
ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010ГОСТ Р 8.700-2010

© 2013 Ёшкин Кот :-) Карта сайта